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METHOD AND PROGRAM FOR FAILURE DIAGNOSIS OF SEMICONDUCTOR LOGIC CIRCUIT DEVICE

Seeds code S120008409
Posted date Jan 25, 2012
Researchers
  • (In Japanese)温 暁青
  • (In Japanese)梶原 誠司
Name of technology METHOD AND PROGRAM FOR FAILURE DIAGNOSIS OF SEMICONDUCTOR LOGIC CIRCUIT DEVICE
Technology summary (In Japanese)半導体論理回路装置の回路情報において、X故障ゲートGiのファンアウト信号線に出現可能な故障論理値を表すX記号を挿入する。次に、テスト入力ベクトルVECを入力信号線に入力して初期シミュレーション出力ベクトルISOを出力信号線に得る。次に、X記号に2値論理シミュレーションを行ってX分解によるシミュレーション出力ベクトルを得る。次に、実際の半導体論理回路装置に対してテスト入力ベクトルVECを入力信号線に入力した際の観測出力ベクトルとシミュレーション出力ベクトルとの比較結果に応じて半導体論理回路装置の故障存在被疑領域を特定化する。
Drawing

※Click image to enlarge.

thum_2010-092911.gif
Research field
  • Logic circuits
  • Measurement, testing and reliability of solid‐state devices
Seeds that can be deployed (In Japanese)効率性を保持しつつ精確性を高くした半導体論理回路装置の故障診断方法及び故障診断プログラムを提供する。
ゲートのファンアウト信号線に出現可能な故障論理値を表す記号を挿入し、この状態でシミュレーション出力ベクトルを得ているので、複雑、動的及び多重の故障がシミュレーション出力ベクトルに反映され、この結果、誤診断を防止でき、効率性を保持しつつ精確性を向上できる。また、故障候補ゲートに対して1つもしくは複数のシミュレーション出力ベクトルを得ているので、マッチング条件を緩和できる。
Usage Use field (In Japanese)故障診断付LS論理回路、LSIテスタ、論理回路設計システム
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)国立大学法人九州工業大学, . (In Japanese)温 暁青, 梶原 誠司, . METHOD AND PROGRAM FOR FAILURE DIAGNOSIS OF SEMICONDUCTOR LOGIC CIRCUIT DEVICE. P2010-217188A. Sep 30, 2010
  • G01R  31/28     

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