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(In Japanese)変換装置、変換方法、変換方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体

Seeds code S120008413
Posted date Jan 25, 2012
Researchers
  • (In Japanese)梶原 誠司
  • (In Japanese)宮瀬 紘平
  • (In Japanese)温 暁青
  • (In Japanese)皆本 義弘
  • (In Japanese)伊達 博
Name of technology (In Japanese)変換装置、変換方法、変換方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体
Technology summary (In Japanese)初期テストパターン100aは、予め与えられた手法により生成されたテストデータである。初期テストパターン100aは、複数の構成要素を備え、各構成要素は少なくとも2つのテストベクトルを備える。初期テストパターン100aは、変換装置100により、故障の検出条件を満たす論理値の組合せが決定され、同時にドントケアが決定される。変換装置100は、中間テストパターン100bを生成する。中間テストパターン100bは、複数の構成要素を備え、各構成要素は2つのテストキューブを備える。論理値割当装置101は、生成された中間テストパターン100bのドントケアに対して論理値を割り当てる。全てのドントケアに論理値が割り当てられたテストデータは、最終テストパターン100cとして変換される。最終テストパターン100cは、初期テストパターン100aと同様に、複数の構成要素を備える。この最終テストパターン100cは、初期テストパターン100aと故障検出率は同じであるが、圧縮によりデータ量が削減されていたり、テスト時の消費電力が削減できるようなテストパターンに変換されている。
Drawing

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thum_2008-522609.gif
Research field
  • Measurement, testing and reliability of solid‐state devices
Seeds that can be deployed (In Japanese)あらかじめ与えられた初期テストパターンを、その構成要素で検出できる遷移遅延故障の故障検出率を下げずに、論理値が異なるビット構成のテストパターンに変換する変換装置、変換方法、変換方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラムを提供する。
遷移遅延故障検出用のテストパターンを圧縮により削減する有効な手段を実現し、遷移遅延故障検出用のテストパターンのサイズが膨大になる問題が改善され、遷移遅延故障のテスト印加時間を短縮することができる。
Usage Use field (In Japanese)テストパターン生成機、LSIテスタ
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)国立大学法人九州工業大学, . (In Japanese)梶原 誠司, 宮瀬 紘平, 温 暁青, 皆本 義弘, 伊達 博, . (In Japanese)変換装置、変換方法、変換方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体. . Nov 26, 2009
  • G01R  31/3183   

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