(In Japanese)薄膜太陽電池の評価方法、評価装置および製造方法、並びに透明導電膜電極における直列抵抗の評価方法および評価装置
| Seeds code | S120009072 | ||
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| Posted date | Feb 23, 2012 | ||
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| Name of technology | (In Japanese)薄膜太陽電池の評価方法、評価装置および製造方法、並びに透明導電膜電極における直列抵抗の評価方法および評価装置 | ||
| Technology summary | (In Japanese)評価装置10は、電流導入部11、発光強度測定部12、演算部20を備える構成となっている。演算部20は、薄膜太陽電池（図示せず）の性能を評価するために、発光強度測定部12が測定した発光強度を演算するものであり、変化量算出部21、抵抗値判定部22、抵抗値算出部23、電流値特定部24および作動電流決定部25を含む。まず、電流導入部11が、薄膜太陽電池に対して順方向に電流を導入し、導入された電流によって、薄膜太陽電池が発光し、発光強度測定部12は、検出した光の強度（発光強度）を測定する。次に、変化量算出部21は、発光強度測定部12が測定した発光強度について、横方向の距離に対する変化量を算出する。そして、抵抗値判定部22は、変化量算出部21の算出した変化量が所定の値より大きい場合には、直列抵抗値が大きいと判定し、所定の値より小さい場合には直列抵抗値が小さいと判定する。 | ||
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Drawing
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| Seeds that can be deployed |
(In Japanese)薄膜太陽電池の電極の直列抵抗成分は、従来の結晶系の太陽電池に比べて、発電効率に大きな影響を与える。そこで、薄膜太陽電池の直列抵抗成分を評価することが可能な評価方法および評価装置を提供する。 薄膜太陽電池の直列抵抗成分、特に薄膜太陽電池の透明導電膜電極の直列抵抗成分を評価することができる。特に、薄膜太陽電池が製品化された状態であっても評価可能であるため、薄膜太陽電池の開発に有用である。 |
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| Usage Use field | (In Japanese)薄膜太陽電池評価装置 | ||
| Application patent | patent | IPC(International Patent Classification) | |
| ( 1 ) | (In Japanese)国立大学法人 奈良先端科学技術大学院大学， . (In Japanese)冬木 隆， 谷 あゆみ， . METHOD AND DEVICE FOR EVALUATION OF THIN FILM SOLAR CELL, AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AS WELL AS METHOD AND DEVICE FOR EVALUATION OF SERIES RESISTANCE IN TRANSPARENT CONDUCTIVE FILM ELECTRODE. P2011-035272A. Feb 17, 2011 |
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- Nara Institute Science and Technology Cooperative Research Division
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-
E-mail:
- Address:8916-5,Takayama-cho,Ikoma-shi,Nara , 630-0192
- Fax:81-743-72-5194
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