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TESTING DEVICE FOR LIGHTENING CHARACTERISTIC OF MAGNETIC FLUX PINNING MECHANISM IN SUPERCONDUCTIVITY BEARING

Seeds code S120009327
Posted date Mar 29, 2012
Researchers
  • (In Japanese)樋笠 博正
  • (In Japanese)松下 照男
  • (In Japanese)小森 望充
  • (In Japanese)小田部 エドモンド 荘司
Name of technology TESTING DEVICE FOR LIGHTENING CHARACTERISTIC OF MAGNETIC FLUX PINNING MECHANISM IN SUPERCONDUCTIVITY BEARING
Technology summary (In Japanese)供試用ラジアル型超電導軸受8の回転子8bは、アキシャル方向磁気軸受1の回転子1b,上部ラジアル方向磁気軸受2の回転子2b,回転駆動用電動機3の回転子3b,及び下部ラジアル方向磁気軸受4の回転子4bが夫々表面に配設された非接触、垂直立設の回転軸に同心直結され、5軸制御磁気軸受の半径及び軸方向制振自動制御により、回転子8b,1b,2b,3b,4bは、固定子8a,1a,2a,3a,及び4aに対し非接触定常定置安定化して回転駆動用電動機3により、予め定めた回転状態に制御調整可能な構成にしたことを特徴とする磁束ピンニング機構緩和特性測定装置である。
Drawing

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thum_2003-020476.gif
Research field
  • Bearings
  • Superconducting applications
Seeds that can be deployed (In Japanese)超電導軸受の設計に不可欠な設計データを回転、非回転に関わらず取得できる磁束ピンニング緩和試験装置を提供する。
超電導軸受の回転に随伴して生ずる特に著しい磁束ピンニング機構の緩和特性などが基因して生ずる超電導軸受の超電導磁気浮上特性の著しい劣化現象について、正確な測定方法を確立できたので、超電導軸受の軸方向変位の的確な安定性対策を図ることができる。加えて、大きな影響を与える回転損失についても測定することができるので、超電導軸受の精緻な設計上、不可欠な情報を提供でき、実用化を着実に促進できる。
Usage Use field (In Japanese)超電導軸受、磁束ピンニング機構緩和特性試験装置
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)国立大学法人九州工業大学, . (In Japanese)樋笠 博正, 松下 照男, 小森 望充, 小田部 エドモンド 荘司, . TESTING DEVICE FOR LIGHTENING CHARACTERISTIC OF MAGNETIC FLUX PINNING MECHANISM IN SUPERCONDUCTIVITY BEARING. P2004-232695A. Aug 19, 2004
  • F16C  32/04     
  • G01N  27/72     

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