Top > Search Technology seeds > TWO-DIRECTIONAL APPARATUS USING SPECKLE FOR SIMULTANEOUSLY MEASURING DEFORMATION

TWO-DIRECTIONAL APPARATUS USING SPECKLE FOR SIMULTANEOUSLY MEASURING DEFORMATION

Seeds code S130009715
Posted date Jun 5, 2013
Researchers
  • (In Japanese)内野 正和
Name of technology TWO-DIRECTIONAL APPARATUS USING SPECKLE FOR SIMULTANEOUSLY MEASURING DEFORMATION
Technology summary (In Japanese)スペックルを用いた2方向変形同時計測装置10は、物体11に水平方向から波長λ1のレーザ光L1、垂直方向から波長λ2のレーザ光L2を同時に照射するレーザ光照射手段14と、各レーザ光L1、L2が物体11の表面で散乱して生じた散乱レーザ光15を波長別に分離して波長λ1のレーザ光L1及び波長λ2のレーザ光L2としてそれぞれ検知する散乱レーザ光検知手段16を有する。散乱レーザ光検知手段16から出力される波長λ1のレーザ光L1及び波長λ2のレーザ光L2の各検知信号からそれぞれスペックル干渉縞を形成しスペックル干渉縞から物体11の水平方向の見掛けの変形量と垂直方向の見掛けの変形量を算出して物体11の真の変形量と変形方向を決定する計測部本体17が設けられている。計測部本体17は、物体11の水平方向及び垂直方向の各見掛けの変形量を求める第1の変形量演算手段と、第1の変形量演算手段で求めた物体11の水平及び垂直方向の各見掛けの変形量から物体11の真の変形量と変形方向を演算する第2の変形量演算手段を有する。
Drawing

※Click image to enlarge.

thum_2001-316771.gif
Research field
  • Interferometry and interferometers
  • Measuring methods and instruments of length, area, cross section, volume, angle
  • Lasers in general
Seeds that can be deployed (In Japanese)物体の真の変形量を計測するに際し、異なる2方向から同時にレーザ光を照射して変形量と変形方向の計測が可能となるスペックルを用いた2方向変形同時計測装置を提供する。
この2方向変形同時計測装置においては、異なる2方向の見掛けの変形量を計測する際に各方向の計測時刻に時間差が生じないため、変形速度が速い場合の物体の真の変形量及び変形方向の計測、非常に精度の高い物体の真の変形量及び変形方向の計測が可能となる。また、各受光器に受光されるレーザ光L1、L2の波長選択の精度を向上させて精緻なスペックルパターン及びスペックル干渉縞を得ることができ、精度の高い真の変形量の絶対値計測を行うことが可能となる。
Usage Use field (In Japanese)2方向変形同時計測装置、変形方向計測装置、同時計測装置、散乱レーザ光検知手段
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)福岡県, 国立研究開発法人科学技術振興機構, . (In Japanese)内野 正和, . TWO-DIRECTIONAL APPARATUS USING SPECKLE FOR SIMULTANEOUSLY MEASURING DEFORMATION. P2003-121120A. Apr 23, 2003
  • G01B  11/16     

PAGE TOP