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THIN LAYER OBLIQUE ILLUMINATION METHOD FOR OPTICAL SYSTEM

Seeds code S130009724
Posted date Jun 5, 2013
Researchers
  • (In Japanese)徳永 万喜洋
Name of technology THIN LAYER OBLIQUE ILLUMINATION METHOD FOR OPTICAL SYSTEM
Technology summary (In Japanese)レーザー光を照明光として用い、集光用レンズ13によって対物レンズ4の後焦点面にレーザー光を集光し、試料における照明光を平行光にする。可変絞り径Rを変えて入射開き角δθを変化させ、照射半径rを調節する。ミラー12と集光用レンズ13を一体としてtx方向に移動させることにより、入射位置Xを調節する。次に、ミラー12へのレーザー光の入射位置をtφ方向に移動すると、集光用レンズ13を通過後の光路の傾きが変化するので、tφによって対物レンズ4への入射角φを調節する。以上の調節によって、試料における照明光の層の厚さd=2r・cosθを数ミクロンに設定することができる。実施例を挙げると、油浸100倍NA1.4の対物レンズを用い、試料観察面における照射領域の直径2r=30μmの時、試料における入射角θ=80°でd=5μm、入射角θ=84°でd=3μmとなる。油浸60倍NA1.4の対物レンズを用い、試料観察面における照射領域の直径2r=45μmの時、試料における入射角θ=86°でd=3μmとなる。
Drawing

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thum_2001-380967_1.gif thum_2001-380967_2.gif
Research field
  • Optical microscopes, telescopes
  • Light sources, lighting apparatus
Seeds that can be deployed (In Japanese)顕微鏡と同等の光学系を用いて光を使って物質や分子を高感度検出することを可能とし、光学顕微鏡における低背景・高感度観察を可能にする光学系の薄層斜光照明法を提供することを目的とする。
薄い層状の光で試料を照明することにより、光学顕微鏡はもとより各種の顕微鏡及び光を用いた検出において、低背景の画像及び低バックグラウンドのシグナルを得ることができ、結果として、高感度・高いS/N比の画像及びシグナルを得ることができる。また、また、試料の照明が薄い層状領域のみの局所的であるので、得られる蛍光像を高感度カメラで観察することにより、蛍光色素1分子を可視化できると共に、分子1個の蛍光強度を得ることによって、蛍光強度から細胞内における分子数を定量することもできる。更に、分子数の定量から細胞内における分子間相互作用の結合分子数と結合の強さを求めることができる。
Usage Use field (In Japanese)薄層斜光照明装置、光学顕微鏡、蛍光顕微鏡、暗視野顕微鏡
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)国立研究開発法人科学技術振興機構, . (In Japanese)徳永 万喜洋, . THIN LAYER OBLIQUE ILLUMINATION METHOD FOR OPTICAL SYSTEM. P2003-185930A. Jul 3, 2003
  • G02B  21/06     
  • G01N  21/64     
  • G01N  13/10     

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