生成装置、生成方法、この方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体
| シーズコード | S130010066 | ||
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| 掲載日 | 2013年6月6日 | ||
| 研究者 |
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| 技術名称 | 生成装置、生成方法、この方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体 | ||
| 技術概要 | 論理値割当部１０５は、選択部１０１により選択された割当対象未定値ビットに論理値０を割り当てることによって得られる第１テストキューブと、選択された割当対象未定値ビットに論理値１を割り当てることによって得られる第２テストキューブに対して、キャプチャ遷移数数値化部１０３を適用し、第１テストキューブによるキャプチャ遷移数と第２テストキューブによるキャプチャ遷移数を比較し、その少ない方に対応する論理値を選択された割当対象未定値ビットに割り当てる。複数の未定値ビットの全てに論理値が割り当てるまで、キャプチャ遷移数数値化部１０３の演算結果に基づいて割当対象未定値ビットに論理値が割り当てられる。ここで、選択された割当対象未定値ビットに対して１が論理値として割り当てられた場合の第１テストキューブによるキャプチャ遷移数と選択された割当対象未定値ビットに対して０が論理値として割り当てられた場合の第２テストキューブによるキャプチャ遷移数との比較は比較部１１７により行われ、決定部１１９は、比較部１１７の比較結果により値の小さな遷移数に対応する１又は０を割り当てるべき論理値として決定する。 | ||
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画像
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| 研究分野 |
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| 展開可能なシーズ |
キャプチャ消費電力を効果的に削減可能とするテストベクトルを生成する生成装置、生成方法、この方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体を提供する。 テストキューブに複数の未定値ビットが含まれても、選択手段により上記「Ｘ割当（ある特質を持つ未定値ビットを持たないテストベクトルを得るために、論理値をテストキューブ内の未定値ビットに割当てる過程）の対象となる未定値ビットの選択問題」が解決可能で、キャプチャ遷移数数値化手段及び論理値割り当て手段により「Ｘ割当の割り当て論理値決定問題」が解決可能となる。そのため、キャプチャ消費電力を効果的に削減可能なテストベクトルが生成可能となる。論理回路がフルスキャン設計された順序回路である場合において、スキャンフリップ・フロップのような遷移だけでなく、回路全体の遷移数を削減することが可能になる。 |
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| 用途利用分野 | 半導体設計ＣＡＤ、論理設計システム、デバイスシミュレータ、シリコンコンパイラ | ||
| 出願特許 | 特許 | 国際特許分類(IPC) | |
| ( 1 ) | 国立大学法人九州工業大学， . 温 暁青， 梶原 誠司， 宮瀬 絋平， 皆本 義弘， 伊達 博， . 生成装置、生成方法、この方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体. 特開2008-082867. 2008-04-10 |
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英語項目の表示
| 技術名称 | GENERATION DEVICE, GENERATION METHOD, PROGRAM ALLOWING COMPUTER TO EXECUTE THE METHOD, AND RECORDING MEDIUM HAVING THE PROGRAM STORED THEREIN |
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| 研究分野 |
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『 生成装置、生成方法、この方法をコンピュータに実行させることが可能なプログラム、及び、このプログラムを記録した記録媒体 』に関するお問合せ
- 国立研究開発法人科学技術振興機構（ＪＳＴ） 知的財産マネジメント推進部
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