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(In Japanese)スピン緩和変動方法、スピン流検出方法、及び、スピン緩和を利用したスピントロニクスデバイス

Seeds code S130011416
Posted date Jun 7, 2013
Researchers
  • (In Japanese)安藤 和也
  • (In Japanese)針井 一哉
  • (In Japanese)捧 耕平
  • (In Japanese)齊藤 英治
Name of technology (In Japanese)スピン緩和変動方法、スピン流検出方法、及び、スピン緩和を利用したスピントロニクスデバイス
Technology summary (In Japanese)特定のスピン状態にある部材1にスピン流4を注入してスピン緩和時間を制御する。即ち、スピン緩和過程におけるスピン或いは磁気モーメント2の角運動量及びエネルギーの散逸に伴うスピン流4の発生現象を逆に利用して、スピン流4を注入することによって、特定のスピン状態にある部材1のスピン緩和時間を制御する。このように、スピン流4によりスピン緩和時間の制御が可能になることによって、各種のスピントロニクスデバイス或いはスピントロニクスシステムの高速化、高機能化、或いは、低消費電力化が可能になる。
Drawing

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thum_2009-509018.gif
Research field
  • Election spin resonance in general
  • Magnetoelectric devices
Seeds that can be deployed (In Japanese)スピン流の注入によりスピン緩和を変動させるとともに、純スピン注入効率を高める。
スピン注入電極を、金属-絶縁体転移が生ずる寸前の短平均自由行程領域、好適には平均自由行程が平均原子間距離の2~5倍の材料で構成することによって、スピン流変換効率を高めることができる。それによって、純スピン流の注入効率を大幅に向上することができるので、素子の熱破壊を防止することができるとともに、消費電力を低減することができる。
Usage Use field (In Japanese)磁気抵抗効果型ランダム・アクセス・メモリ、量子コンピュータ
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)国立大学法人東北大学, . (In Japanese)安藤 和也, 針井 一哉, 捧 耕平, 齊藤 英治, . (In Japanese)スピン緩和変動方法、スピン流検出方法、及び、スピン緩和を利用したスピントロニクスデバイス. . Jul 15, 2010
  • H01L  29/82     
  • H01L  21/8246   
  • H01L  27/105    
  • H01L  43/08     

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