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(In Japanese)測定により場を取得する装置および方法

Seeds code S130011417
Posted date Jun 7, 2013
Researchers
  • (In Japanese)木村 建次郎
  • (In Japanese)小林 圭
  • (In Japanese)山田 啓文
  • (In Japanese)松重 和美
  • (In Japanese)堀内 喬
  • (In Japanese)佐藤 宣夫
  • (In Japanese)中井 章文
Name of technology (In Japanese)測定により場を取得する装置および方法
Technology summary (In Japanese)対象物の存在に起因して少なくとも対象物の周囲または内部に形成され、かつ、ラプラス方程式を満たす3次元スカラー場を示す場関数であるφ(x,y,z)(ただし、x,y,zは互いに垂直なX,Y,Z方向にて規定される直交座標系の座標パラメータ(変数)を示す。)またはφ(x,y,z)をzにて1回以上微分したものを取得する3次元場取得装置に向けられている。対象物の外部または内部(対象物の表面を含み、確認的に外部または内部と表現しているにすぎない。)に、z=0を満たす測定面が設定されており、装置は、3次元スカラー場に由来する一の種類の測定値の測定面における分布を2次元の第1測定値群として取得し、当該一の種類の測定値を示す関数をzにて1回微分したものに対応する測定値の測定面における分布を2次元の第2測定値群として取得する測定値群取得部と、第1測定値群および第2測定値群に基づいて、測定面におけるφz(q)(x,y,z)を求める演算部とを備える。
Research field
  • Numerical analysis, approximation method
  • Numerical computation
Seeds that can be deployed (In Japanese)磁位、電位等のラプラス方程式を満たす様々な3次元場を、対象物から離れた位置すなわち非接触領域での測定値から高精度に取得する手法を提供する。
測定により3次元場を取得する技術は、高次元のn次元場を取得する様々な技術に拡張することができ、例えば、時間をパラメータに加えた4次元場を取得する技術に容易に利用することができる。また、2次元以下の場に利用することも可能である。一般化されたn次元場を取得する技術は、磁位、電位、温度、重力ポテンシャル、弾性波動、光電場等の様々な場の取得に利用することができる。また、ポテンシャル場に限らず、ラプラス方程式を満たす2つ以上のn個のパラメータから表現される物理的もしくは工学的現象を表現する関数においても適用することが可能である。
Usage Use field (In Japanese)ウイルス診断システム、地中レーダシステム、非破壊検査システム、生体磁場解析システム
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)国立大学法人京都大学, 株式会社Integral Geometry Science, . (In Japanese)木村 建次郎, 小林 圭, 山田 啓文, 松重 和美, 堀内 喬, 佐藤 宣夫, 中井 章文, . (In Japanese)測定により場を取得する装置および方法. . Jul 15, 2010
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