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イオン化方法ならびにイオン化方法を利用した質量分析方法および装置


シーズコード	S130011442
掲載日	2013年6月7日
研究者	堀裕和チェン・リーチュイン平岡賢三
技術名称	イオン化方法ならびにイオン化方法を利用した質量分析方法および装置
技術概要	基板１０を質量分析装置２０内の試料台２１上に固定し，レーザ装置２２から試料１１表面の金薄膜１２に向けて５３２ｎｍ可視レーザ・パルス光を照射する。位置を定めて，レーザ・パルス照射を行うと，最初の５から１０パルス程度で，試料を覆っていた金の薄膜１２がスパッタされて，金薄膜１２にｎｍオーダの穴Ｈがあき，下地の試料１１が現れてくる。このレーザ照射過程で金の薄膜が剥がされて，直径が約１０ｎｍまたはその前後のサイズの金微粒子が数多く試料表面にスパッタされ点在するようになる。つまり，最初はレーザ光の強度を金薄膜１２がスパッタされ，穴があく程度に強くしておく。レーザ光強度分布は、Ｄで示すようにほぼガウス分布になっており，レーザ光強度は中心部ほど強いから、金の薄膜１２には，レーザ照射箇所の中心ほど深くなるような円錐状の凹部Ｒが形成され，そのほぼ中心部が試料表面に達し穴Ｈがあけられる。したがって，試料１１はわずかに露出する（Ｓ）。試料が露出する範囲Ｓはレーザ光の波長に関係ないので非常に微細にすることができ，空間分解能を高めることができる。
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研究分野	質量分析計
展開可能なシーズ	試料の非常に微細な範囲の分子をイオン化できるようにし，分子イメージングの空間分解能が高め、また、試料の損失をできるだけ少なくすることにある。さらに他の目的は，試料からの分子の脱離，イオン化の効率を高めることにある。このイオン化方法は，生体組織や細胞など，実試料に直接適用することが原理的に可能である。すなわち，実試料に金をコーティングし，これにレーザ光を照射し、ｎｍオーダの穴をあけて、イオンを観測する。レーザ・ビーム光を掃引して、試料のｎｍオーダ空間分解能をもつイメージング像を得ることができる。
用途利用分野	質量分析計、微細イオン化装置
出願特許		特許	国際特許分類(IPC)
出願特許	( 1 )	国立大学法人山梨大学， . 堀裕和，チェン・リーチュイン，平岡賢三， . イオン化方法ならびにイオン化方法を利用した質量分析方法および装置. . 2011-04-21	G01N 27/62 H01J 49/10 G01N 27/64