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LIQUID CRYSTAL HEATING MEASUREMENT METHOD, AND SAMPLE HEATING MECHANISM USED THEREFOR

Seeds code S130011707
Posted date Jun 7, 2013
Researchers
  • (In Japanese)太田 和親
Name of technology LIQUID CRYSTAL HEATING MEASUREMENT METHOD, AND SAMPLE HEATING MECHANISM USED THEREFOR
Technology summary (In Japanese)サンプルを付着させて支持するセット部が形成されたサンプルプレートと、該サンプルプレートの裏面に配されるヒータ板とを備え、前記ヒータ板を加熱し、前記サンプルプレートに支持されたサンプルを所定の設定温度に加熱して測定を行う液晶の加熱測定方法である。前記サンプルを所定の設定温度に制御する方法として、前記サンプルプレートのセット部に、液晶となる温度が既知の液晶材料を供給し、前記ヒータ板により前記サンプルプレートを加熱しながら前記液晶材料の転移点を検知する方法により、前記ヒータ板によるサンプルの加熱温度をあらかじめキャリブレーションする工程を備え、前記キャリブレーションの結果にしたがって前記ヒータ板による加熱を制御して、前記サンプルプレートにセットされたサンプルの温度を制御する。また、前記サンプルの加熱温度をキャリブレーションする工程においては、液晶となる温度が異なる複数種の液晶材料を前記サンプルプレートに供給し、前記ヒータ板によりサンプルプレートを加熱して、これら複数種の液晶材料についての転移点を検知する方法によってキャリブレーションする。
Drawing

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thum_2010-142340.gif
Research field
  • Laboratory techniques and instrumentation systems in physics
Seeds that can be deployed (In Japanese)本発明はこれらの課題を解決すべくなされたものであり、液晶材料についてX線回折や光吸収測定を行う際に、サンプルの設定温度を変えて測定する操作を効率的に行うことを可能とし、サンプルの分量が少ない場合であっても、正確にサンプルの温度を制御して測定することができる液晶の加熱測定方法及びこれに用いるサンプルの加熱機構を提供することを目的とする。
本発明に係る液晶の加熱測定方法及びサンプルの加熱機構によれば、サンプルの液晶材料の加熱温度を正確に制御して測定することができ、液晶の相構造や配向性等の特性を測定する操作を効率的に行うことができる。
Usage Use field (In Japanese)液晶の加熱機構
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)国立大学法人信州大学, . (In Japanese)太田 和親, . LIQUID CRYSTAL HEATING MEASUREMENT METHOD, AND SAMPLE HEATING MECHANISM USED THEREFOR. P2012-008235A. Jan 12, 2012
  • G02F   1/13     
  • G01N  25/00     
  • G01N  25/02     

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