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BIAXIAL TENSION TEST DEVICE

Seeds code S130011806
Posted date Jun 7, 2013
Researchers
  • (In Japanese)高橋 進
Name of technology BIAXIAL TENSION TEST DEVICE
Technology summary (In Japanese)二軸引張り試験装置は、基台1上に、第一軸L1に沿った位置で互いに離間した一対のレール2、3と、第一軸L1に直交する第二軸L2に沿った位置で互いに離間した一対のレール4,5とが配置されている。各レール2~5上には、スライド部6~9が移動自在に配置されている。試験片Sに対する二軸方向(互いに直交する第一軸L1及び第二軸L2)の引張り比の変更は、一対の第一軸リンクアーム14,15の第一軸支点間距離Aを調整するだけであり、1台の荷重伝達部19がリンクアーム上端連結部18に下向き荷重を伝達し、リンクアーム上端連結部18の下方移動が、一対の第一軸リンクアーム14,15及び一対の第二軸リンクアーム16,17を回動させて4台のスライド部6~9に後退移動力を伝達することで、各スライド部6~9に連結した試験片チャック部10~13が試験片Sに対する二軸方向に異なる引張り量の引張り力を付与する。
Drawing

※Click image to enlarge.

thum_2010-170571.gif
Research field
  • Material testing
Seeds that can be deployed (In Japanese)試験片の二軸引張り比の変更作業を容易に行なうことができる二軸引張り試験装置を提供する。
本発明に係る二軸引張り試験装置によると、試験片に対する二軸方向(互いに直交する第一軸及び第二軸)の引張り比の変更は、一対の第一軸リンクアームの第一軸支点間距離を調整するだけであり、これにより各スライド部に連結した試験片チャック部が試験片Sに対する二軸方向に異なる引張り量の引張り力を付与することができる。従って、複数の駆動手段の駆動力調整を必要とし、或いはリンク機構の全てを変更しなければならない従来の装置と比較して、二軸引張り比の変更作業を容易に行なうことができる。
Usage Use field (In Japanese)二軸引張り試験装置
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)学校法人日本大学, . (In Japanese)高橋 進, . BIAXIAL TENSION TEST DEVICE. P2012-032218A. Feb 16, 2012
  • G01N   3/04     
  • G01N   3/08     

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