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PARTICLE ORIENTATION APPARATUS AND PARTICLE ORIENTATION METHOD

Seeds code S130012315
Posted date Jun 10, 2013
Researchers
  • (In Japanese)木村 恒久
  • (In Japanese)木村 史子
Name of technology PARTICLE ORIENTATION APPARATUS AND PARTICLE ORIENTATION METHOD
Technology summary (In Japanese)微粒子配向装置1は、磁場発生部12と、微粒子を懸濁させた試料容器2を、回転磁場を形成するのに必要な速度で磁場発生部12に対して相対回転させる駆動部13とを備える。さらに、試料容器2が180度回転するたびに、静磁場を形成するのに必要な所定時間tsの間、相対回転を一時的にほぼ停止させるように駆動部13を駆動制御する制御部14とを備える。時間変動磁場が印加されると、試料容器2内において懸濁された微粒子は、回転中に回転磁場が形成されることにより、微粒子3の磁化困難軸がxy平面(回転面)に対して垂直なz軸方向に配向される。これにより、微粒子は、ランダムに配置された状態から、三次元配向された状態、すなわち擬単結晶化した状態となる。この状態において、試料容器2に対してX線源から垂直方向にX線aを照射することにより、X線構造解析を行うことができる。
Drawing

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thum_2011-033264.GIF
Research field
  • X‐ray diffraction methods
Seeds that can be deployed (In Japanese)従来の微粒子配向装置にあっては、試料を90度の広範囲に亘って低速回転させながら静磁場を形成しているため、静磁場において微粒子の磁界容易軸を配向させているときに、その直前の回転磁場で配向させた磁化困難軸が揺らいで、磁化困難軸の配向が乱れるという問題があった。そこで、微粒子を三次元配向させる際の配向精度を高めることができる微粒子配向装置及び微粒子配向方法を提供する。
微粒子の磁化容易軸を配向している間に、磁化困難軸の配向が乱れるのを抑制することができるため、微粒子を三次元配向させる際の配向精度を高めることができる。
Usage Use field (In Japanese)微粒子配向装置
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) Kyoto University, . (In Japanese)木村 恒久, 木村 史子, . PARTICLE ORIENTATION APPARATUS AND PARTICLE ORIENTATION METHOD. P2012-173042A. Sep 10, 2012
  • G01N  23/20     

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