SPECTRAL CHARACTERISTIC MEASURING APPARATUS AND CALIBRATION METHOD THEREOF
| Seeds code | S130012354 | ||
|---|---|---|---|
| Posted date | Jun 10, 2013 | ||
| Researchers |
|
||
| Name of technology | SPECTRAL CHARACTERISTIC MEASURING APPARATUS AND CALIBRATION METHOD THEREOF | ||
| Technology summary | (In Japanese)分光特性測定装置10は測定モード及び校正モードを備えている。測定モードでは被測定物Sの各輝点から発せられた光を分割光学系を通して第1及び第2反射部251，252に入射させ、そこで反射された光を結像光学系26によって干渉像を形成する。第1反射部251を移動させることにより分割光学系から第1及び第2反射部を経て結像光学系に向かう第1及び第2反射光の間の相対的な光路長差を伸縮させ、そのときの干渉像の光強度変化に基づき被測定物の各輝点のインターフェログラムを求める。校正モードでは、輝点から出射される所定波長λの光を分割光学系に入射させることにより、輝点に対応する複数の干渉像を形成させ、そのときの光強度変化に基づき光強度変化の1周期に対応する第1反射部の移動量を求め、輝点の波長λ、第1反射部の移動量、干渉像の画角θから第1反射部の設置角を求める。 | ||
|
Drawing
※Click image to enlarge. |
|
||
| Research field |
|
||
| Seeds that can be deployed |
(In Japanese)広視野分光イメージングを行う場合であっても高精度に分光特性を測定することができる分光特性測定装置及びその校正方法を提供する。 第1反射部の設置角を予め求め、この設置角と第1反射部の移動量及び被測定物の各測定点の画角から画角毎の光路長差を求めることができるので、検出感度の低下を招くことなく高精度に被測定物の各測定点の分光特性を測定することができる。また、被測定物の測定点の画角の大小に関係なく真の光路長差を求めることができるので、広視野分光イメージングに有用な分光特性測定装置を提供することができる。 |
||
| Usage Use field | (In Japanese)分光特性測定装置 | ||
| Application patent | patent | IPC(International Patent Classification) | |
| ( 1 ) | Kagawa University， . (In Japanese)石丸 伊知郎， . SPECTRAL CHARACTERISTIC MEASURING APPARATUS AND CALIBRATION METHOD THEREOF. P2012-181060A. Sep 20, 2012 |
|
|
Contact Information for " SPECTRAL CHARACTERISTIC MEASURING APPARATUS AND CALIBRATION METHOD THEREOF "
- Kagawa University Center for Social Collaboration and Intellectual Property
- URL: http://www.kagawa-u.ac.jp/ccip/
-
E-mail:
- Address:2217-20, Hayashi-cho, Takamatsu-shi, Kagawa , 761-0396
- Phone:81-87-864-2522
- Fax:81-87-864-2549
※ It is possible to retrieve in J-STORE by the same key word. → Retrieval result of J-STORE
