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(In Japanese)異方性解析方法及び異方性解析装置

Seeds code S032000006
Posted date Oct 1, 2003
Researchers
  • (In Japanese)長谷川 富市
Affiliation
  • (In Japanese)新潟大学 工学部機械システム工学科
Research organization
  • (In Japanese)新潟大学 工学部機械システム工学科
Name of technology (In Japanese)異方性解析方法及び異方性解析装置
Technology summary (In Japanese)物質の異方性を調べる目的で、一本のレーザー光から互いに直交する二本の光を作りその二本を同一直線上に重ね合わせ被検査体中にとおす。この二本の光は物質の異方性により各々の振動面に対応する変化を受けるがこのままでは振動面が異なっているため干渉しない。そのため半波長板を用いて振動面をそろえ重ね合わせることにより干渉させ生じた干渉縞の様子から物質の異方性に関する情報を得るものである。なお、上記の目的を達成するために、円偏光、楕円偏光、ランダム偏光のうちの一つの光を被検査体中に通し、その後振動面が互いに直交する二本の光に分け、最後に上記と同様の方法で干渉縞を生じさせることも可能である。
Outline of related art and contending technology (In Japanese)従来は,一本の偏光に変調を加えており電気的な同期を行う必要があった。このため,システムが複雑となり高額な計器が必要であった。また,空間的領域にわたる計測はできなかった。一方,複屈折を示す材料の異方性検出には複屈折法が用いられてきたが,これは限られた検査体にのみ有効である。
Research field
  • Lasers in general
Seeds that can be deployed (In Japanese)(1)被検査体通過後の光を振動面が互いに直交する二本の光に分け、さらにその二本の光の振動面をそろえて干渉させる方法
(2)検査体の密度変化の影響を受けない方法
(3)被検査体のある範囲にわたる情報を得ることができる装置  動的な変化が観測できる装置
Usage Use field (In Japanese)材料科学
塗布工業
流体工学
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)学校法人新潟大学, . (In Japanese)長谷川 富市, . METHOD AND APPARATUS FOR ANISOTROPIC ANALYSIS. P2002-131225A. May 9, 2002
  • G01N  21/21     
  • G01J   9/02     
  • G01N  21/45     

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