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(In Japanese)Hilbert変換を用いた電子的スペックル干渉法による変形計測法

Seeds code S040000390
Posted date Sep 1, 2006
Researchers
  • (In Japanese)豊岡 了
Affiliation
  • (In Japanese)埼玉大学
Research organization
  • (In Japanese)埼玉大学
Name of technology (In Japanese)Hilbert変換を用いた電子的スペックル干渉法による変形計測法
Technology summary (In Japanese)本発明は、スペックル干渉法を物体の動的な変形などの観察に適用し、高精度な位相解析を実現する方法である。干渉パターンをCCDカメラなどで観測し、各画素について物体の変形による干渉信号の変化を計算機に取り込む。この信号(余弦信号)に対して、ヒルベルト変換を行うと元の信号に対して90度位相のずれた信号(正弦信号)を得ることができる。これら2つの信号を用いることにより、物体の変形やひづみによる位相変化を高精度に定量化することができる。従来は、これを行うために外部位相変調素子などを光路の片方に導入して行う方法が一般に用いられてきた。しかし、この方法では、外部位相変調素子により位相変調を導入しながら複数の干渉画像を取り込む間物体が静止している必要があり、動的な物体の観察は困難であった。本方法はこの点を解決した実用的な手法である。
Outline of related art and contending technology (In Japanese)従来の電子的スペックル干渉法に位相シフト法を適用することにより定量解析を可能とした製品がドイツエッテンマイヤー社から販売されているが、位相シフト法を用いているため動的な現象の観察には有効でない。
Research field
  • Interferometry and interferometers
  • Pattern recognition
Seeds that can be deployed (In Japanese)(1)動的物体の時間的変化あるいは歪などを含めて動的な物体の観察に最適な高精度変形計測法
(2)物体位相回復のための位相接続処理は完全に自動化可能な高精度変形計測法
Usage Use field (In Japanese)合金、複合材料などの疲労試験用。
橋、建物など大型構造物の変形計測、危険予知。
プラスチック成型用金型などの変形・歪解析。
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)国立大学法人埼玉大学, . (In Japanese)豊岡 了, 門野 博史, . DEFORMATION MEASUREMENT METHOD AND DEVICE USING ELECTRONIC SPECKLE INTERFEROMETRY. P2004-109075A. Apr 8, 2004
  • G01B  11/16     

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