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(In Japanese)メタリック塗装などのクリア層厚みの非接触精密測定法 meetings

Seeds code S080000106
Posted date Sep 5, 2008
Researchers
  • (In Japanese)安達 正明
Affiliation
  • (In Japanese)金沢大学 理工研究域 機械工学系
Research organization
  • (In Japanese)国立大学法人金沢大学
Name of technology (In Japanese)メタリック塗装などのクリア層厚みの非接触精密測定法 meetings
Technology summary (In Japanese)偏光したレーザーシート光を塗装面に当て、長距離顕微鏡で反射光のパターンを撮影して厚みを測定する。顕微鏡画像を2次元カメラで1回取り込み、レーザーシート光と塗装表面の交線上の各点で、クリア層の厚みが測定可能である。
Drawing

※Click image to enlarge.

S080000106_01SUM.gif
Outline of related art and contending technology (In Japanese)本技術は非接触なので焼き付け前にクリア層の厚み評価が可能である。画像取り込みと評価計算が簡単に速く行えるので全数検査も可能である。1点測定ではなく、交線上の複数点での厚み測定が同時にできるため、点毎のバラツキや平均値評価がし易い。
Research field
  • Measuring methods and instruments of length, area, cross section, volume, angle
  • Lasers in general
Seeds that can be deployed (In Japanese)・顕微鏡を用いているが煩雑なピント調整は不要
・線上複数点で同時測定出来バラツキや精度評価が容易
・20~80μmの厚みを高い繰り返し精度で測定可能
Usage Use field (In Japanese)自動車のメタリック塗装表面上の焼き付け前のクリア層厚みの評価
表面保護用の透明薄膜の厚み評価
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)国立大学法人金沢大学, . (In Japanese)安達 正明, . THICKNESS MEASURING METHOD AND MEASURING DEVICE OF TRANSPARENT LAYER. P2008-157834A. Jul 10, 2008
  • G01B  11/06     
  • B05D   1/36     
  • B05D   5/06     
  • B05C  11/00     

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