Top > Search Technology seeds > (In Japanese)テラヘルツ電磁波を用いた物性測定装置

(In Japanese)テラヘルツ電磁波を用いた物性測定装置

Seeds code S090000699
Posted date Sep 14, 2009
Researchers
  • (In Japanese)島野 亮
  • (In Japanese)五神 真
Name of technology (In Japanese)テラヘルツ電磁波を用いた物性測定装置
Technology summary (In Japanese)偏光子25は、レンズ21bと被測定材料2との間の光路に配設される。偏光子25は、入射光学系10から被測定材料2へのテラヘルツ電磁波の偏光を制御し、かつ、被測定材料2から反射されるテラヘルツ電磁波の偏光を制御し、検出光学系30に出射させる。偏光子25により入射テラヘルツ電磁波の垂直偏光成分23を被測定材料2に照射する。偏光子25には、被測定材料2からのテラヘルツ電磁波の反射波が再び入射し、反射テラヘルツ電磁波の垂直偏光成分24が取り出され、検出光学系30へ出射される。従って、物性測定装置1では、偏光子25が被測定材料2からの反射テラヘルツ電磁波の検光子を兼ねるので、被測定材料2にテラヘルツ電磁波23を垂直に入射させ、反射テラヘルツ電磁波も同一の偏光子25に出射させる光学配置となる。このため、被測定材料2に磁化が存在する場合やホール測定のために磁場を印加すると、被測定材料2からの反射テラヘルツ電磁波はホール効果によりその偏波面が傾き、楕円になり、垂直の偏光成分24のみがワイヤグリッド偏光子25により検出光学系30へ出射する。
Drawing

※Click image to enlarge.

S090000699_01SUM.gif
Research field
  • Measuring methods and instruments of waveform, frequency, wavelength, phase
Seeds that can be deployed (In Japanese)テラヘルツ電磁波が照射される被測定材料からの反射波の偏光変化によるホール係数などを、非接触で、高感度で、かつ、高精度で測定できる、テラヘルツ電磁波を用いた物性測定装置を提供する。
テラヘルツ電磁波を用いた物性測定装置によれば、電極の設置をせずに非接触で、かつ、非破壊で、被測定材料の各種伝導特性をテラヘルツ電磁波の広帯域で測定できる。また、広い領域における伝導特性の空間分布の評価も可能である。さらに極限環境下(高温、 高磁場、 高圧下)に配置された被測定材料の遠隔測定も可能である。
Usage Use field (In Japanese)テラヘルツ電磁波
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)国立研究開発法人科学技術振興機構, . (In Japanese)島野 亮, 五神 真, . MEASURING APPARATUS FOR PHYSICAL PROPERTY USING TERAHERTZ ELECTROMAGNETIC WAVE. P2005-315708A. Nov 10, 2005
  • G01N  21/35     

PAGE TOP