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(In Japanese)光学材料のレーザー損傷閾値評価方法

Seeds code S090000780
Posted date Sep 14, 2009
Researchers
  • (In Japanese)神村 共住
  • (In Japanese)中村 亮介
  • (In Japanese)中井 貞雄
  • (In Japanese)佐々木 孝友
  • (In Japanese)森 勇介
  • (In Japanese)吉村 政志
  • (In Japanese)兼松 泰男
  • (In Japanese)吉田 國雄
Name of technology (In Japanese)光学材料のレーザー損傷閾値評価方法
Technology summary (In Japanese)光学材料12に、式1:λ0≦λ≦-100logT-560+λ0(nm)で表される波長λ(nm)を有しパルス幅が10-16s以上10-6s以下であるパルスレーザー光を集光照射し、光学材料のエネルギー密度を増大させて二光子吸収を発生させ、入射レーザー光の透過率を測定し、二光子吸収に起因する透過率低下を求めレーザー損傷閾値を評価する。式中、λ0はその光学材料の透過限界波長、Tはパルス幅(単位s)である。このとき、パルスレーザー光のパルス幅を10-15s以上10-7s以下とするのがより好ましく、またパルスレーザー光の波長λ(nm)を式2:λ0≦λ≦-110logT-685+λ0(nm)で表される波長とするのがより好ましく、特にこの範囲において、パルス幅が短く、波長が短いほど好ましい。パルスレーザー光の波長が透過限界波長よりも短い場合には、パルスレーザー光の透過が極めて小さくなるため透過率低下によるレーザー損傷閾値の評価が困難となり、パルスレーザー光の波長が式1の上限より長い場合には二光子吸収の発生が少なくなり、効果的な光学材料のレーザー損傷閾値評価方法が困難となる。
Drawing

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S090000780_01SUM.gif
Seeds that can be deployed (In Japanese)非破壊・非接触であって短時間で安価に光学材料のレーザー損傷閾値を評価することのできる光学材料のレーザー損傷閾値評価方法を提供する。
従来よりも波長変換素子の信頼性がはるかに向上し、高出力・長寿命な高性能全固体紫外レーザー光源を実現することができる。
Usage Use field (In Japanese)情報・通信、超微細加工、医療
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)国立研究開発法人科学技術振興機構, . (In Japanese)神村 共住, 中村 亮介, 中井 貞雄, 佐々木 孝友, 森 勇介, 吉村 政志, 兼松 泰男, 吉田 國雄, . METHOD FOR EVALUATING THRESHOLD OF LASER DAMAGE TO OPTICAL MATERIAL. P2005-114720A. Apr 28, 2005
  • G01N  17/00     
  • G01M  11/00     
  • G01N  21/33     

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