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(In Japanese)ポンププローブ測定装置及びそれを用いた走査プローブ顕微鏡装置

Seeds code S090000965
Posted date Sep 14, 2009
Researchers
  • (In Japanese)重川 秀実
  • (In Japanese)武内 修
Name of technology (In Japanese)ポンププローブ測定装置及びそれを用いた走査プローブ顕微鏡装置
Technology summary (In Japanese)遅延時間変調式のポンププローブ測定装置1では、レーザー光源11は、ポンプ光となる第1の超短光パルス列及びプローブ光となる第2の超短光パルス列を発生させる。パルスピッカー13、14は、例えば100MHzという高い繰り返し周波数で入射するレーザーパルス列から任意の周期で1パルスのみを選択的に透過させ、残りを遮断させる。遅延時間変調部10は、パルスピッカー13、14により通過させる光パルスの選択箇所を周期的に変更させる。遅延時間調整部15は、可動ミラー15aの移動により、ポンプパルス光のプローブ光のパルスに対する遅延時間を適宜に設定する。光検出器17は、試料19の表面で反射されたプローブ信号が反射ミラー16dを介して入射されることにより、ポンプパルス光照射の後、正確な遅延時間における試料19の表面における反射率を測定する。ロックイン検出手段18は、測定される反射光強度の遅延時間依存成分が、レーザー光源11の光量の揺らぎに比べても非常に小さいため、正確な測定のために変調測定を行う。
Drawing

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S090000965_01SUM.gif
Seeds that can be deployed (In Japanese)熱の影響を受けることなく、緩和時間の短い現象から長い現象までの広い測定範囲に亘って、微弱信号を高精度に安定して計測するようにした超高速物理現象を計測し解析するためのポンププローブ測定装置及びこの測定装置を用いた時間分解型の走査プローブ顕微鏡装置を提供する。
パルスレーザーを用いたフェムト秒領域を含む時間分解測定において、照射光強度を変調することなく、緩和時間の短い現象から長い現象までの広い測定範囲に亘って、微弱信号を高精度に安定して計測することができる。
Usage Use field (In Japanese)超高速物理現象
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)国立研究開発法人科学技術振興機構, . (In Japanese)重川 秀実, 武内 修, . PUMP PROBE MEASURING INSTRUMENT AND SCANNING PROBE MICROSCOPE. P2008-139028A. Jun 19, 2008
  • G01N  21/27     
  • G01Q  60/10     

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