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(In Japanese)光再構成型ゲートアレイの書込状態検査方法及び書込状態検査装置、並びに光再構成型ゲートアレイ

Seeds code S090001327
Posted date Mar 5, 2010
Researchers
  • (In Japanese)渡邊 実
  • (In Japanese)小林 史典
Name of technology (In Japanese)光再構成型ゲートアレイの書込状態検査方法及び書込状態検査装置、並びに光再構成型ゲートアレイ
Technology summary (In Japanese)ORGA(光再構成型ゲートアレイ)内の論理回路構造を、検査対象光再構成ビット素子に照射する光信号をオンからオフに切替えた場合に、最低一つの論理レベル又は出力インピーダンスが変化する論理構造に構成する光信号パターンであって、検査対象光再構成ビット素子に照射する光信号がオン又はオフである第1、第2の光信号パターンを、論理回路に対し順次照射入力する。それと伴に、各々の論理出力端子に接続され、当該出力端子の論理レベルがHレベル、Lレベル、又は高インピーダンスの何れの状態であるかを検出する出力状態検出回路により、各々の出力状態を検出する。検出された状態を、入力された光信号パターンの正常な出力状態と比較することにより、各光再構成ビット素子について光信号による情報書込状態の合否判定を行う。
Drawing

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S090001327_01SUM.gif
Research field
  • Logic circuits
  • Measurement, testing and reliability of solid‐state devices
Seeds that can be deployed (In Japanese)VLSI部の論理回路内に組み込まれた書込状態検査回路は、論理回路内のゲートアレイの実装領域を圧迫し、論理回路のゲート密度を向上させる上で大きな障害となる。そこで、光再構成型ゲートアレイの論理回路内部の書込状態検査のための専用回路が不要な書込状態検査技術を提供する。
論理回路内に検査回路を組み込む必要がないので、書込状態検査のための回路の実装面積を節約できる。そして、書込状態検査のための回路が、光再構成型ゲートアレイのゲート密度を向上させる。また、光再構成型ゲートアレイの内部回路を用いて光信号による書込状態の検査・診断を行うことができるので、光信号を出力する光学部と、光再構成型ゲートアレイが実装されたチップとの間の位置合わせをする際の利便性が向上する。
Usage Use field (In Japanese)ホログラム・メモリ、CD,MD,DVD
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)国立研究開発法人科学技術振興機構, 国立大学法人九州工業大学, . (In Japanese)渡邊 実, 小林 史典, . WRITE STATE INSPECTION METHOD OF OPTICALLY RECONFIGURABLE GATE ARRAY, WRITE STATE INSPECTION APPARATUS, AND OPTICALLY RECONFIGURABLE GATE ARRAY. P2006-005809A. Jan 5, 2006
  • H03K  19/173    
  • G01R  31/317    
  • H01L  21/82     

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