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(In Japanese)電気特性測定装置 meetings

Seeds code S090003696
Posted date Mar 30, 2010
Researchers
  • (In Japanese)鮫島 俊之
Name of technology (In Japanese)電気特性測定装置 meetings
Technology summary (In Japanese)交流電圧電流源30からインダクタンス20を介して電気的特性を測定するための半導体試料10に交流電圧を供給する。そして、電気計測器40によって、インダクタンス20の両端の電位を計測する。交流電圧電流源30の周波数は、インダクタンス20(L)と半導体試料10の表面に設けられる絶縁膜11のキャパシタンスCとのLC共振条件を満足させるように設定される。これにより、半導体試料10の表面に接着される絶縁膜11を取り除くことなく、半導体試料10の電気的特性を測定することが可能となる。
Drawing

※Click image to enlarge.

S090003696_01SUM.gif
Research field
  • Measuring methods and instruments of current, voltage, charge
  • Thin films in general
  • Insulating materials
Seeds that can be deployed (In Japanese)半導体試料及び半導体と絶縁膜界面の電気特性を正確に測定することができる半導体の電気特性測定装置を提供する。
半導体におけるキャリヤ伝導や表面状態の電気的特性を正確に評価することにより、半導体材料の特性を知り、半導体デバイスを歩留り良く製造することができる。
Usage Use field (In Japanese)半導体測定装置
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)国立大学法人東京農工大学, . (In Japanese)鮫島 俊之, . INSTRUMENT FOR MEASURING ELECTRIC CHARACTERISTICS. P2007-115769A. May 10, 2007
  • H01L  21/66     
  • G01R  31/26     

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