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PARTICLE DIAMETER DISTRIBUTION-MEASURING DEVICE

Seeds code S100001659
Posted date Oct 4, 2010
Researchers
  • (In Japanese)林 茂
  • (In Japanese)高橋 位
Name of technology PARTICLE DIAMETER DISTRIBUTION-MEASURING DEVICE
Technology summary (In Japanese)センサ数以下の連続する粒径区分で構成され、最小粒径を下限、最大粒径を上限とする当初粒径区間S1を設定する。粒径区分の確率密度が負にならない範囲で、その確率密度に対する予測散乱エネルギーベクトルと実測散乱エネルギーベクトルとが最も一致するように各粒径区分の確率密度を求める。そして、最大粒径区分と最小粒径区分のいずれか一方の確率密度が所定値を越えた場合には、予測散乱エネルギーベクトルと実測散乱エネルギーベクトルとが最も一致する粒径区間を、最大粒径区分の確率密度が所定値を越える場合にはより大粒径側へ、最小粒径区分の確率密度が所定値を越える場合にはより小粒径側へ、1粒径区分ずつシフトさせる。これにより得られた新粒径区間S2に基づいて、粒子群の粒径分布を得る算定手順を解析部に予め記憶させる。この手段によれば、測定粒子の大粒径側が粒径区間の上限を超えたり、測定粒子の小粒径側が粒径区間の下限を超えたりする場合でも、実際の粒径分布と誤差が生じてしまうことが無く、代表粒径が過小評価あるいは過大評価されてしまうことがなくなる。また、煩雑なレンズの取り替え作業や光学調整の必要がない。
Drawing

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thum_1999-324973.gif
Research field
  • Optical instruments and techniques in general
  • Measuring methods and instruments of length, area, cross section, volume, angle
Seeds that can be deployed (In Japanese)粒径区間のシフトや粒径区分の細分化手順を記憶させた解析部を採用して、粒子群の粒径分布を高精度に測定できるようにした粒径分布測定装置を提供する。
測定範囲の上限あるいは下限の外側に粒径分布の裾が広がるような粒子群に対しても、その程度が小さければ、レンズやセンサを取り替えることなく、より高精度にその粒径分布を測定できる。
Usage Use field (In Japanese)食品、薬品、セラミックス、燃料、塗料
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)国立研究開発法人宇宙航空研究開発機構, マイクロトラック・ベル株式会社, . (In Japanese)林 茂, 高橋 位, . PARTICLE DIAMETER DISTRIBUTION-MEASURING DEVICE. P2001-141639A. May 25, 2001
  • G01N  15/02     
  • G01N  15/14     

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