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THERMO-OPTICAL CONSTANT MEASURING METHOD FOR POLYMERIC MATERIAL AND THERMO-OPTICAL CONSTANT MEASURING METHOD FOR POLYMERIC THIN FILM

Seeds code S100001912
Posted date Oct 6, 2010
Researchers
  • (In Japanese)杉原 興浩
  • (In Japanese)岡本 尚道
  • (In Japanese)冨木 政宏
Name of technology THERMO-OPTICAL CONSTANT MEASURING METHOD FOR POLYMERIC MATERIAL AND THERMO-OPTICAL CONSTANT MEASURING METHOD FOR POLYMERIC THIN FILM
Technology summary (In Japanese)高分子材料の温度を変化させて異なる複数の温度に保持するとともに、それぞれの温度に保持された高分子材料の表面に光を入射させて、高分子材料の表面から複数のモードの反射光を得、これら複数のモードの反射光の反射角度を求めることにより、高分子材料の熱光学定数を測定する。高分子材料又は高分子薄膜に対してモードライン法を適用し、複数のモードの反射光の反射角度から屈折率ngを求める。そして、高分子材料又は高分子薄膜を加熱又は冷却してそれらの温度を変化させ、異なる複数の温度で操作を実施することにより、各温度Tでの屈折率ngを求める。次いで、屈折率ngをそれら温度Tに対してプロットしてグラフ化すると、このグラフの勾配から熱光学定数dng/dTが求められる。熱光学定数を測定する際に高分子材料又は高分子薄膜を所定の形状に切り出す必要がないため、残留応力による円二色性の問題を生じることなく、熱光学定数の正確な測定が可能となる。また、高分子材料及び高分子薄膜の熱光学定数を、それらを具えるデバイス形状のまま測定することができるので、熱光学定数の測定操作が極めて簡易化される。
Drawing

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thum_2000-310615.gif
Research field
  • Polarimetry and polarimeters
  • Thin films in general
  • Polymeric materials in general
Seeds that can be deployed (In Japanese)複数のモードの反射光の反射角度を求めることにより、高分子光導波路デバイスなどに使用する高分子材料又は高分子薄膜の熱光学定数に対する新規な測定方法を提供する。
熱光学定数を測定する際に高分子材料又は高分子薄膜を所定の形状に切り出す必要がないので、残留応力による円二色性の問題を生じることなく、熱光学定数の正確な測定が可能となる。
Usage Use field (In Japanese)光集積回路、光配線板
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)学校法人静岡大学, . (In Japanese)杉原 興浩, 岡本 尚道, 冨木 政宏, . THERMO-OPTICAL CONSTANT MEASURING METHOD FOR POLYMERIC MATERIAL AND THERMO-OPTICAL CONSTANT MEASURING METHOD FOR POLYMERIC THIN FILM. P2002-116164A. Apr 19, 2002
  • G01N  25/02     
  • G01N  21/41     

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