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CURRENT-MEASURING METHOD AND SURFACE MEASURING APPARATUS

Seeds code S100001913
Posted date Oct 6, 2010
Researchers
  • (In Japanese)坂口 浩司
  • (In Japanese)岩田 太
  • (In Japanese)佐々木 彰
  • (In Japanese)長村 利彦
Name of technology CURRENT-MEASURING METHOD AND SURFACE MEASURING APPARATUS
Technology summary (In Japanese)基板1上の分子2に探針3を接触させて、分子2を流れる電流を電流測定手段で計測する。基板1は、導電性を有し、分子2といった微小試料を流れる電流を計測するために、例えば原子レベルで平坦な表面を有することが好ましい。導電性の探針3と、電源4とは、導線5aにより接続され、基板1は、電流測定手段6を介して導線5bで電源4と接続されている。探針3を分子2に接触させることで、閉回路が形成され、電源4から分子2を通して電流が流れ、電流測定手段6により分子2に流れる電流が計測される。電源4から供給された電流は、導線5bを通して導電性の基板1へ供給される。導電性の基板1からは、分子2に接触した導電性の探針3へ向けてトンネル電流が分子2を通して流される。流れたトンネル電流は、探針3を通して導線5aにより電流測定手段6により検出される。探針3は、絶縁性の基体に金属がメッキされているものが用いられている。また、探針3の先端は、先が鋭く尖った形をしており、分子2を1分子ずつ接触可能なように0.1~10nmであることが好ましい。
Drawing

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thum_2000-372814.gif
Research field
  • Measuring methods and instruments of length, area, cross section, volume, angle
  • Measuring methods and instruments of current, voltage, charge
Seeds that can be deployed (In Japanese)電性の基板に分子を結合させることによって電気的接合をとることができ、また分子に導電性の探針を接触させて、探針に電圧を印加し、分子を通して流れる電流を計測することで1分子または数分子に流れる電流を計測することができる電流の計測方法、この電流の計測方法を用いた表面の測定装置および顕微鏡装置を提供する。
導電性の基板に分子を結合させることによって電気的接合をとることができ、また分子に導電性の探針を接触させて、探針に電圧を印加し、分子を通して流れる電流を計測することで1分子または数分子に流れる電流を直接計測することができる。
Usage Use field (In Japanese)顕微鏡装置、分子電流計測
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)学校法人静岡大学, . (In Japanese)坂口 浩司, 岩田 太, 佐々木 彰, 長村 利彦, . CURRENT-MEASURING METHOD AND SURFACE MEASURING APPARATUS. P2002-174580A. Jun 21, 2002
  • G01N  13/12     
  • G12B  21/04     

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