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SCATTERING TARGET HOLDING MECHANISM AND ELECTRON SPIN ANALYZER

Seeds code S100001923
Posted date Oct 6, 2010
Researchers
  • (In Japanese)武笠 幸一
  • (In Japanese)池田 正幸
  • (In Japanese)末岡 和久
  • (In Japanese)武藤 征一
  • (In Japanese)上遠野 久夫
  • (In Japanese)上田 映介
Name of technology SCATTERING TARGET HOLDING MECHANISM AND ELECTRON SPIN ANALYZER
Technology summary (In Japanese)電子スピン分析器は、電子線発生装置1、加速電極2―1、2-2、電極支持部3、散乱電子検出器4-1、4-2、開口部内に形成された散乱ターゲット5とを有する。散乱ターゲット5は、ターゲット保持部材6によって加速電極2-1及び電極保持部3によって形成される空間の外部から保持されている。そして、ターゲット保持部材6は、その外周部を絶縁支持部材7で絶縁支持されている。さらに、絶縁支持部材7の外周部にはガイド部材8が設けられている。これによれば、散乱ターゲット5、散乱ターゲット保持部材6、及び絶縁支持部材7を、ガイド部材8に沿って自在に着脱できるため、散乱ターゲットの交換を容易に行うことができる。また、散乱ターゲット保持部材6は導電性材料から構成されるとともに、絶縁支持部材7は絶縁性材料から構成されている。したがって、散乱ターゲット保持部材6を通じて散乱ターゲット5に対して外部から電流を導入することができ、これら部材が電極としても機能していることが分かる。すなわち、これら部材を設けた他に電極を設ける必要がないため、電子スピン分析器の構成を簡易化できる。
Drawing

※Click image to enlarge.

thum_2000-130224.gif
Research field
  • Particle optics in general
  • Election spin resonance in general
Seeds that can be deployed (In Japanese)散乱ターゲットの交換を容易にする新規な散乱ターゲット保持機構を提供するとともに、この散乱ターゲット保持機構を具え、散乱ターゲットの交換を容易にした電子スピン分析器を提供する。
電子スピン分析器における散乱ターゲットの交換を極めて容易に行うことができ、散乱ターゲット交換に伴う作業性及び作業時間を極めて効率化し、分析器自体の定量性の評価をも極めて容易に行うことができる。
Usage Use field (In Japanese)電子材料分析、磁気材料材料表面分析、電子スピン分析装置
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)学校法人北海道大学, . (In Japanese)武笠 幸一, 池田 正幸, 末岡 和久, 武藤 征一, 上遠野 久夫, 上田 映介, . SCATTERING TARGET HOLDING MECHANISM AND ELECTRON SPIN ANALYZER. P2001-311702A. Nov 9, 2001
  • G01N  23/20     

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