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ELECTRON SPIN ANALYZER

Seeds code S100001924
Posted date Oct 6, 2010
Researchers
  • (In Japanese)武笠 幸一
  • (In Japanese)池田 正幸
  • (In Japanese)末岡 和久
  • (In Japanese)武藤 征一
  • (In Japanese)上遠野 久夫
  • (In Japanese)上田 映介
Name of technology ELECTRON SPIN ANALYZER
Technology summary (In Japanese)電子スピン分析器を、電子線発生装置1、及び電子線発生装置1の電子線発射口1Aと対向するように配置された外側加速電極2と内側加速電極3で構成する。かかる構成において、外側加速電極2及び内側加速電極3を電極支持部材6によって支持する。また、外側加速電極2の外周部に、電子線の入射方向に対して左右対照となる位置に散乱電子検出部4を設け、外側加速電極2及び内側加速電極3の内部には、電極支持部材6に取り付けられた支持台13によって支持された散乱ターゲット5を設ける。そして、外側加速電極2及び内側加速電極3には、夫々電子線発生装置1から発射された電子線を散乱ターゲット5に導入すべく、外側導入口14及び内側導入口15を設ける。そして、散乱ターゲット5で散乱された電子を散乱電子検出部4に導入すべく、夫々外側開口部8及び内側開口部7を設ける。この際、内側導入口15の開口径を外側導入口14の開口径よりも大きくする。具体的には、内側導入口15の開口径の開口角αが、外側導入口15の開口径の開口角βよりも0.1~5度大きいことが好ましい。
Drawing

※Click image to enlarge.

thum_2000-133700.gif
Research field
  • Electron lens, electron energy analyzers
Seeds that can be deployed (In Japanese)装置を小型化した場合においても、散乱電子を効率よく検出することのできる電子スピン分析器を提供する。
加速電極部を内側加速電極と外側加速電極とからなる2重構造にすると共に、電子線を散乱ターゲットに導入すべく内側加速電極に設けられた内側導入口の開口径を、電子線を散乱ターゲットに導入すべく外側加速電極に設けられた外側導入口の開口径よりも大きくすることにより、散乱電子の検出感度を劣化させることなく、電子スピン分析器を小型化することができる。
Usage Use field (In Japanese)高効率電子スピン分析器
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)国立大学法人 北海道大学, . (In Japanese)武笠 幸一, 池田 正幸, 末岡 和久, 武藤 征一, 上遠野 久夫, 上田 映介, . ELECTRON SPIN ANALYZER. P2001-319611A. Nov 16, 2001
  • H01J  37/244    
  • G01N  23/20     
  • H01J  37/26     

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