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SCANNING MAGNETIC DETECTOR, AND PROBE FOR SCANNING MAGNETIC DETECTOR

Seeds code S100001930
Posted date Oct 6, 2010
Researchers
  • (In Japanese)武笠 幸一
  • (In Japanese)澤村 誠
  • (In Japanese)末岡 和久
  • (In Japanese)廣田 榮一
Name of technology SCANNING MAGNETIC DETECTOR, AND PROBE FOR SCANNING MAGNETIC DETECTOR
Technology summary (In Japanese)この走査型磁気検出装置は、電気伝導性の、スピン偏極を有する単結晶状固体からなる深針を具え、この深針を磁性試料の表面に近接させ、探針の、磁性材料による磁場との交換相互作用によって探針を磁気的に飽和させて、深針と磁性試料の表面との間にトンネル電流を生ぜしめ、トンネル電流を計測することにより、磁性試料の表面の状態を光励起を行うことなく検出する。この走査型磁気検出装置における深針を磁性試料の表面に近接させると、深針の先端を構成する原子の波動関数と、磁性試料の表面原子のS型波動関数とが重なり、磁性試料による磁場との交換相互作用によって、深針は磁気的に飽和する。この結果、両者の間に流れるトンネル電流は、磁性試料表面の磁気能率の大きさ及び向きに依存する。すなわち、磁性試料表面の磁気能率の大きさが増大するにつれて、トンネル電流の絶対値が大きくなる。また、トンネル電流は、磁気能率の向きと平行に流れる。磁性試料表面を構成する原子の種類や配列が変化すると、その磁気能率も変化する。したがって、この磁気能率の特性を反映したトンネル電流を計測することによって、磁性試料の表面状態を検出することができる。
Research field
  • Electron and ion microscopes
Seeds that can be deployed (In Japanese)磁性試料の表面状態を精度良く検出でき、深針尖端の清浄性が劣化しない、簡便で小型化できる新規な走査型磁気検出装置、及びこれに用いる深針を提供する。
電気伝導性の、スピン偏極を有する単結晶状固体からなる深針より走査型磁気検出装置を構成し、深針と磁性試料表面との間の相互作用によって生じるトンネル電流を計測するので、磁性試料表面の形態を高精度に検出することができる。
Usage Use field (In Japanese)トンネル電子顕微鏡
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)国立大学法人北海道大学, . (In Japanese)武笠 幸一, 澤村 誠, 末岡 和久, 廣田 榮一, . SCANNING MAGNETIC DETECTOR, AND PROBE FOR SCANNING MAGNETIC DETECTOR. P2002-257703A. Sep 11, 2002
  • G01N  13/12     
  • G01B   7/34     
  • G12B  21/04     

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