Top > Search Technology seeds > SCANNING PROBE MICROSCOPE

SCANNING PROBE MICROSCOPE

Seeds code S100001933
Posted date Oct 6, 2010
Researchers
  • (In Japanese)武笠 幸一
  • (In Japanese)末岡 和久
  • (In Japanese)加茂 直樹
  • (In Japanese)細井 浩貴
  • (In Japanese)澤村 誠
Name of technology SCANNING PROBE MICROSCOPE
Technology summary (In Japanese)この走査型プローブ顕微鏡は、カンチレバー1と、このカンチレバー1上に形成された探針2と、この探針2の先端部分に形成された、アームチェア型の結晶構造を有し、伝導性を呈するカーボンナノチューブ3と、カーボンナノチューブ3に接続されたスピン偏極電子源とを具える。スピン偏極電子源からカーボンナノチューブ3を介して磁性試料中にスピン電子を注入せしめ、磁性試料の表面磁気構造及びスピン偏極度の空間分布の少なくとも一方を測定する。カーボンナノチューブ3はアームチェア型の結晶構造を有し、金属的な性質を帯びるようになって伝導性を呈する。したがって、このようなカーボンナノチューブ3の量子伝導性を利用した物性測定を行うことができる。具体的には、カーボンナノチューブ3に対してスピン偏極電子源を接続する。そして、このスピン偏極電子源などから所定の磁性試料に対して電子注入を行うとともに、磁性試料からのトンネル電流や弾道電子放出電流を、カーボンナノチューブ3を介して検出することにより、試料の磁気構造やスピン偏極度などの空間分布を測定することができる。
Drawing

※Click image to enlarge.

thum_2001-192149.gif
Research field
  • Electron and ion microscopes
Seeds that can be deployed (In Japanese)種々の物性測定が可能であるとともに、生化学分野など種々の分野に適用することのできる新規な構成の走査型プローブ顕微鏡を提供する。
探針の先端部分にカーボンナノチューブを設けているので、カーボンナノチューブの微細な大きさと、このカーボンナノチューブの先端部分が有する伝導性又は修飾分子の物理特性とに応じて、種々の試料の種々の物性特性の測定が可能となる。
Usage Use field (In Japanese)ナノテクノロジー技術、カーボンナノチューブ、物性特性測定
Application patent   patent IPC(International Patent Classification)
( 1 ) (In Japanese)国立大学法人北海道大学, . (In Japanese)武笠 幸一, 末岡 和久, 加茂 直樹, 細井 浩貴, 澤村 誠, . SCANNING PROBE MICROSCOPE. P2003-004619A. Jan 8, 2003
  • G01N  13/12     
  • G12B  21/04     

PAGE TOP