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Release Date
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201 S100001916 LARGE-AREA NEGATIVE ION SOURCE Oct 6, 2010 Oct 6, 2010
202 S100001930 SCANNING MAGNETIC DETECTOR, AND PROBE FOR SCANNING MAGNETIC DETECTOR Oct 6, 2010 Oct 6, 2010
203 S100001933 SCANNING PROBE MICROSCOPE Oct 6, 2010 Oct 6, 2010
204 S100001704 FORMING METHOD OF FINE PATTERN, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE Oct 4, 2010 Oct 4, 2010
205 S100001749 METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING LEVEL IN FORBIDDEN BAND BY PHOTOLUMINESCENCE WITH ADDED THERMAL EXCITATION Oct 4, 2010 Oct 4, 2010
206 S100001795 METHOD OF MANUFACTURING FINE FACET SHAPE ON SURFACE OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE Oct 4, 2010 Oct 4, 2010
207 S100001813 INTERFACE FOR MASS SPECTROMETRIC ANALYSIS, MASS SPECTROMETER, AND MASS SPECTROMETRY Oct 4, 2010 Oct 4, 2010
208 S100001817 METHOD AND APPARATUS FOR ANISOTROPIC ANALYSIS Oct 4, 2010 Oct 4, 2010
209 S090003548 (In Japanese) 蛍光測定装置 Mar 30, 2010 Mar 26, 2010
210 S090003549 (In Japanese) 屈折率センサー、屈折率測定装置及び屈折率センサーの製造方法 meetings Mar 30, 2010 Mar 26, 2010
211 S090003583 (In Japanese) 光導波装置 Mar 30, 2010 Mar 26, 2010
212 S090003589 (In Japanese) 生物演出システム Mar 30, 2010 Mar 26, 2010
213 S090003600 (In Japanese) 高密度光くし型フィルタ及びその作製方法 Mar 30, 2010 Mar 26, 2010
214 S090003652 (In Japanese) 注釈表示装置およびこれを用いた注釈表示システム Mar 30, 2010 Mar 26, 2010
215 S090003704 (In Japanese) 所望の波形をもつ光パルス信号または電気パルス信号を生成する方法および装置 Mar 30, 2010 Mar 26, 2010
216 S090003740 (In Japanese) レーザー照射微細加工方法及び該方法を用いて構成された半導体ウェーハ Mar 30, 2010 Mar 26, 2010
217 S090004143 (In Japanese) 粒子集積構造体の製造方法 Mar 30, 2010 Mar 26, 2010
218 S090004352 (In Japanese) もつれ合い光子対発生装置 Mar 30, 2010 Mar 26, 2010
219 S090004353 (In Japanese) ピコ秒レーザーによるホログラムの製造方法 Mar 30, 2010 Mar 26, 2010
220 S090004437 (In Japanese) イオン源 Mar 30, 2010 Mar 26, 2010
221 S090002554 (In Japanese) エバネッセントカテーテルシステム Mar 26, 2010 Mar 24, 2010
222 S090002902 (In Japanese) 放射線検出器用圧力容器システム meetings Mar 26, 2010 Mar 24, 2010
223 S090002905 (In Japanese) 側方散乱光を用いた遠隔レーザーレーダー微粒子計数装置 Mar 26, 2010 Mar 24, 2010
224 S090002917 (In Japanese) ZnS蛍光体を用いた粒子線検出器及び中性子検出器 meetings Mar 26, 2010 Mar 24, 2010
225 S090002924 (In Japanese) 高感度ガス分析装置 meetings Mar 26, 2010 Mar 24, 2010
226 S090002965 (In Japanese) パルス中性子非弾性散乱実験の高効率測定方法 Mar 26, 2010 Mar 24, 2010
227 S090002977 (In Japanese) ZnS蛍光体を用いたシンチレーション中性子検出器の中性子/ガンマ線弁別方法 Mar 26, 2010 Mar 24, 2010
228 S090003361 (In Japanese) パルス波高整列放射線位置検出器 Mar 26, 2010 Mar 24, 2010
229 S090003371 (In Japanese) 中性子線量当量測定器 Mar 26, 2010 Mar 24, 2010
230 S090003374 (In Japanese) 深さ位置認識型放射線検出器 Mar 26, 2010 Mar 24, 2010
231 S090003375 (In Japanese) 放射線位置検出器の校正方法 Mar 26, 2010 Mar 24, 2010
232 S090003379 (In Japanese) 放射線方向性検出器及び放射線モニタリング方法、装置 Mar 26, 2010 Mar 24, 2010
233 S090003411 (In Japanese) 連続移動物体のリアルタイム形状計測方法及びシステム Mar 26, 2010 Mar 24, 2010
234 S090003412 (In Japanese) 縞位相解析方法 Mar 26, 2010 Mar 24, 2010
235 S090003413 (In Japanese) 単色矩形波格子を用いる形状計測方法及び形状計測装置 Mar 26, 2010 Mar 24, 2010
236 S090001877 (In Japanese) 光学変調素子用液晶材料 Mar 19, 2010 Mar 18, 2010
237 S090001979 (In Japanese) 荷電粒子検出方法、これを用いる荷電粒子制御方法 Mar 19, 2010 Mar 18, 2010
238 S090001985 (In Japanese) 部材表面検査装置及び部材表面検査方法 Mar 19, 2010 Mar 18, 2010
239 S090002001 (In Japanese) 光ファイバを利用した放射線及び中性子検出器 Mar 19, 2010 Mar 18, 2010
240 S090002084 (In Japanese) 自然超格子ホモロガス単結晶薄膜の製造方法。 Mar 19, 2010 Mar 18, 2010
241 S090002355 (In Japanese) コールドスプレー質量分析装置 Mar 19, 2010 Mar 18, 2010
242 S090002391 (In Japanese) 荷電粒子線照射装置 Mar 19, 2010 Mar 18, 2010
243 S090002392 (In Japanese) 高周波加速空洞及び装置 Mar 19, 2010 Mar 18, 2010
244 S090001381 (In Japanese) 高周波加速空胴 Mar 5, 2010 Mar 1, 2010
245 S090001383 (In Japanese) レーザー制御型電子ビーム線形加速装置 Mar 5, 2010 Mar 1, 2010
246 S090000172 (In Japanese) 液晶レンズ Sep 14, 2009 Sep 11, 2009
247 S090000195 (In Japanese) 2次元フォトニック結晶面発光レーザ Sep 14, 2009 Sep 11, 2009
248 S090000318 (In Japanese) レーザー増幅装置 Sep 14, 2009 Sep 11, 2009
249 S090000421 (In Japanese) 液晶光学素子 Sep 14, 2009 Sep 11, 2009
250 S090000628 (In Japanese) デジタルホログラフィ装置及びデジタルホログラフィを用いた像再生方法 Sep 14, 2009 Sep 11, 2009
251 S090000778 (In Japanese) ゼロ面アンカリング液晶配向法及びその液晶デバイス Sep 14, 2009 Sep 11, 2009
252 S090000974 (In Japanese) 赤外光検出器 Sep 14, 2009 Sep 11, 2009
253 S080000106 (In Japanese) メタリック塗装などのクリア層厚みの非接触精密測定法 meetings Sep 5, 2008 Aug 25, 2008
254 S040000365 (In Japanese) 表面プラズモンポラリトンを利用して光を波長以下の微小領域に閉じ込めながら,光を低損失伝搬可能な微小サイズの導波構造の発明 Sep 1, 2006 Mar 17, 2005
255 S040000390 (In Japanese) Hilbert変換を用いた電子的スペックル干渉法による変形計測法 Sep 1, 2006 Mar 17, 2005
256 S040000432 (In Japanese) 大きな二光子吸収特性を示すビスアセチレン結合により連結されたビス(イミダゾリルポルフィリン金属錯体)を構成単位とするポルフィリン連鎖体及びその製造方法 Sep 1, 2006 Mar 17, 2005
257 S040000035 (In Japanese) 光学変調素子用液晶材料 Aug 18, 2006 Feb 24, 2005
258 S032000006 (In Japanese) 異方性解析方法及び異方性解析装置 Oct 1, 2003 Sep 11, 2003

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